| 专利名称 | 电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置和方法 | 申请号 | CN201710917302.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107505121A | 公开（授权）日 | 2017.12.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘世杰;鲁棋;周游;王圣浩;徐天柱;王微微;邵建达 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置和方法 至电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种电光晶体通光面法线与晶体光轴的夹角测量装置和方法，该装置中的主要元件包括：线偏振光激光器、第一透镜、小孔光阑、第二透镜、分光镜、平面反射镜、接收屏、第三透镜、一维精密电动位移台、第四透镜、线偏振片、第五透镜、图像探测器和计算机，装调光路须用到数字光电自准直仪和一块平行度为1″的平行平板玻璃等。本发明实现了待测电光晶体非接触式无损检测，克服了现有方法中的晶体易产生划痕、测量装置难以搭建和锥光干涉图难以分析等一系列问题。本发明更换不同F数的第三透镜和第四透镜，可对不同厚度的电光晶体进行测量。本发明测量的数据重复性很好，与现有的X射线晶体定向仪测量的数据进行比较，相对误差在30″以内。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障