| 专利名称 | 光纤光栅时延谱的测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201710626363.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107478331A | 公开（授权）日 | 2017.12.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 蔡海文;赵洁珺;陈泽恒;杨飞 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 光纤光栅时延谱的测量装置和测量方法 至光纤光栅时延谱的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光纤光栅时延谱的测量装置和测量方法。测量装置包括一个时延测量环路和系统时延控制环路。时延测量环路的关键是将光纤光栅产生的光真时延转换为伪随机噪声码测距。系统时延控制环路的关键是利用主动控制环路精确的消除测量死区。本发明具有测量精度高、适用面广、硬件简单和算法高效的优点，并且解决了传统微波信号测量的整数模糊问题。本发明可以用于光纤光栅谱型测量、超快激光器时延参数测量、微波光子学多波束系统中时延测量等领域。 |
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