| 专利名称 | CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法 | 申请号 | CN201710627126.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107454385A | 公开（授权）日 | 2017.12.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 余达;刘金国;孔德柱;马庆军;朱含;王文华;宁永慧 | 主分类号 | H04N17/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H04N17/00(2006.01)I;H04N5/374(2011.01)I | 专利有效期 | CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法 至CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | CMOS图像数据训练系统及图像数据串并转换的仿真检测方法，涉及CMOS图像数据的串并转换的仿真检测方法，解决现有CMOS图像传感器采用的各传输通道之间在每次上电无确定的相位关系，给数据的串并转换带来困难等问题，包括CMOS图像传感器和数据处理器；数据处理器内部包含iodelay、iserdes、数据异步FIFO、控制异步FIFO、gearbox、ram?based?shifer和控制器组成。控制器作为CMOS数据训练系统的核心，控制各部分协调工作。CMOS图像传感器在控制器的控制下，输出串行图数据经iodelay、iserdes、数据异步FIFO、gearbox1:2、ram?based?shifer最终转换为位宽p的并行图像数据。本发明提出基于仿真的串并转换检测方法，针对数据训练的不同阶段产生不同的激励，实现不同的训练策略。 |
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