| 专利名称 | 光谱仪探测器无效像元筛选方法及辐射校正方法 | 申请号 | CN201710601279.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107329189A | 公开（授权）日 | 2017.11.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 李诚良;郑玉权;蔺超 | 主分类号 | G01V13/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01V13/00(2006.01)I;G01V8/10(2006.01)I | 专利有效期 | 光谱仪探测器无效像元筛选方法及辐射校正方法 至光谱仪探测器无效像元筛选方法及辐射校正方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种光谱仪探测器无效像元筛选方法，包括：测试得到待测光谱仪的暗场数据以及分别在不同亮度输入光时探测器的响应度数据；根据暗场数据的统计结果，划分出暗场响应值偏离正常范围的像元，构成第一像元集合；对响应度数据进行线性拟合并计算各个像元的相对误差参数，根据拟合结果划分出响应度小于第一阈值的像元，构成第二像元集合，并划分出相对误差参数偏离正常范围的像元，构成第三像元集合；根据第一像元集合与第二像元集合的交集，并结合第三像元集合，得到无效像元集合。本发明光谱仪探测器无效像元筛选方法，提高了对探测器无效像元筛选的准确性。本发明还公开一种光谱仪辐射校正方法。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障