| 专利名称 | 正电子湮没寿命谱测量方法及系统 | 申请号 | CN201710448229.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107272047A | 公开（授权）日 | 2017.10.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 韩振杰;况鹏;刘福雁;王宝义;张鹏;王英杰;曹兴忠 | 主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/36(2006.01)I;G01N23/00(2006.01)I | 专利有效期 | 正电子湮没寿命谱测量方法及系统 至正电子湮没寿命谱测量方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本公开是关于一种正电子湮没寿命谱测量方法及系统，该方法通过判断基于设置在待测样品同侧的两个探测器探测正电子而生成的第一脉冲信号和第二脉冲信号是否满足预设条件，并在满足该预设条件时对第一脉冲信号和第二脉冲信号进行幅值分析、时间差计算等数学运算处理，以得到正电子湮没寿命谱。借助于预设条件的判断过程，可以充分利用探测器探测到的有效事件数，提高了探测效率，减少了正电子寿命谱的采集时间。 |
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