| 专利名称 | 一次曝光光栅剪切成像装置及数据采集与信息提取方法 | 申请号 | CN201610065004.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107024490A | 公开（授权）日 | 2017.08.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 朱佩平;鞠在强;李盼云;王研;袁清习;黄万霞;张凯 | 主分类号 | G01N23/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 专利有效期 | 一次曝光光栅剪切成像装置及数据采集与信息提取方法 至一次曝光光栅剪切成像装置及数据采集与信息提取方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种一次曝光光栅剪切成像装置及数据采集与信息提取方法，所述方法包括：S21：调整光源和相位光栅，使平行X射线束垂直入射；S22：空置样品转台，相位光栅沿垂直于平行X射线束且垂直于栅条的方向逐步平移，每平移一步后采集并存储相位光栅的光强值；S23：根据每平移一步后采集的光强值确定角度信号响应函数；S24：调整高分辨率探测器，使探测单元与栅条对齐；S25：放置样品，采集并存储样品的光强值；S26：根据各探测单元采集的各样品单元光强值分别组合出相位光栅位移为0、P/4、P/2、3P/4时的样品投影像；S27：根据相位光栅的角度信号响应函数和四张样品投影像，提取样品信息。本发明无需使用分析光栅，且一次曝光采集即可组合四张投影像。 |
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