| 专利名称 | 检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法 | 申请号 | CN201610035260.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106981412A | 公开（授权）日 | 2017.07.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 聂宗秀;朱凯;蒋玉蓉;张宁;熊彩侨;王继云 | 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J49/00(2006.01)I;H01J49/06(2006.01)I;G01N27/64(2006.01)I | 专利有效期 | 检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法 至检测颗粒质量的质谱装置、用途及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提出了用于检测颗粒质量的质谱装置。该装置包括：电离源；离子阱；样品靶；激光器；紫外灯；分光镜；成像器；光电检测器以及计算单元。由此，可以在稳定的测量环境中，利用紫外灯实现多次改变单个带电颗粒的电荷数，进而确定该单个带电颗粒的质量，从而可以提高检测结果的可靠性。 |
1、源头对接，价格透明
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