| 专利名称 | 一种太赫兹量子级联激光器光学拍频信号检测系统及方法 | 申请号 | CN201710118849.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106918742A | 公开（授权）日 | 2017.07.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 黎华;万文坚;曹俊诚 | 主分类号 | G01R23/17(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R23/17(2006.01)I | 专利有效期 | 一种太赫兹量子级联激光器光学拍频信号检测系统及方法 至一种太赫兹量子级联激光器光学拍频信号检测系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种太赫兹量子级联激光器光学拍频信号检测系统及方法，其中，检测系统包括：太赫兹量子阱探测器，用于探测太赫兹量子级联激光器发射的太赫兹多模激光以及光学拍频信号，并转化成电信号；离轴抛面镜组，用于汇聚激光器产生的太赫兹多模激光并将其引导至太赫兹量子阱探测器；探测器直流源，用于向太赫兹量子阱探测器输出直流；T型偏置器，用于将所述探测器直流源输出的直流偏置提供给所述太赫兹量子阱探测器，并耦合出探测器检测到的光学拍频信号；与放大器，用于对T型偏置器耦合出的光学拍频信号进行放大；以及高频检测装置，用于获取光学拍频信号的频谱特性。本发明可以有效地表征太赫兹量子级联激光器光学拍频信号的频谱特性。 |
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