| 专利名称 | 光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201710029634.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106840001A | 公开（授权）日 | 2017.06.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 杨宝喜;金超群;胡小邦;张方;马健;黄惠杰 | 主分类号 | G01B11/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/06(2006.01)I | 专利有效期 | 光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法 至光学透镜中心厚度的非接触式测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光学透镜中心厚度非接触式测量装置和测量方法，装置的构成包括低相干光干涉测量系统、主控计算机、图像传感器、准直器、分光镜、第一透镜、第二透镜、圆柱体自定心夹持架、二维水平调节台、二维连体平移台、第一平面镜、第二平面镜、第一二维调整架、第二二维调整架、安装架和支撑面板。本发明采用反射式中心偏调节方法，可实现透镜光轴与测量系统光轴的快速共轴调节，利用两个平面镜组成的腔式结构，可对未知材料折射率的透镜中心厚度进行非接触式的精确测量。 |
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