| 专利名称 | 测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置 | 申请号 | CN201710058517.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106772818A | 公开（授权）日 | 2017.05.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张攀政;李菁辉;张志祥;王利;汪涛;马伟新 | 主分类号 | G02B6/32(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B6/32(2006.01)I;G02B6/27(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置 至测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置，其构成为：一个脉冲激光器，一个光纤隔离器，三个光纤偏振控制器，一个光纤在线起偏器，一个1×2光纤耦合器，两个2×2光纤耦合器，两个光纤准直器，一段单模光纤，四个快速光电二极管，一台高速示波器。脉冲激光器的输出端连接到一个光纤偏振控制器的一端，光纤偏振控制器另一端连接光纤隔离器。光纤隔离器输出端与光纤在线起偏器输入端连接。在线起偏器输出端连接1×2光纤耦合器的输入端。本发明具有全光纤化、结构紧凑、调节简单、操作方便、抗外界烦扰能力强，能够单发测量大口径磁光隔离器隔离比，测量动态范围高的特点。 |
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