| 专利名称 | 一种射频器件的调试方法 | 申请号 | CN201611121785.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106602202A | 公开（授权）日 | 2017.04.26 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 欧勇盛;王志扬;江国来;杨镜锋;孟令江;吕琴;冯伟 | 主分类号 | H01P11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H01P11/00(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I | 专利有效期 | 一种射频器件的调试方法 至一种射频器件的调试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明实施例公开了一种射频器件的调试方法，包括：对调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一螺杆位置组合中包括分别对应于每一调谐螺杆的待调试位置；按照每一螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的射频器件的第一调试波形；计算每一螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值，其中相似度越大，对应的螺杆位置组合的权重值越高；根据权重值和螺杆位置组合对每一调谐螺杆的目标位置进行估算。通过上述方式，能够有效降低对人工经验的依赖度、提高调试效率，同时具有极强的普适性和泛化性。 |
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