| 专利名称 | 一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法 | 申请号 | CN201610917494.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106546264A | 公开（授权）日 | 2017.03.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 于清华;孙胜利 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法 至一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法。本方法使用热学分析方法中的外热流和角系数，计算分析空间光学仪器的外部杂散光和仪器内部自身辐射达到探测器焦平面的光能量水平，进而利用散粒噪声理论，分析杂散光对空间光学仪器工作性能的影响，从而使杂散光分析与热学分析融为同一个分析过程，实现将杂散光影响分析融入光机热集成分析的一种技术方法。 |
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