基于X射线掩日观测反演临近空间大气密度的方法

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专利名称 基于X射线掩日观测反演临近空间大气密度的方法 申请号 CN201610948414.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN106525651A 公开(授权)日 2017.03.22 申请(专利权)人 中国科学院国家空间科学中心 发明(设计)人 李保权;李海涛;桑鹏;高露露 主分类号 G01N9/24(2006.01)I IPC主分类号 G01N9/24(2006.01)I 专利有效期 基于X射线掩日观测反演临近空间大气密度的方法 至基于X射线掩日观测反演临近空间大气密度的方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及一种基于X射线掩日观测反演临近空间大气密度的方法,包括:通过X射线同时测量未经衰减的太阳X射线强度和掩日路径上衰减之后的X射线强度,进而拟合50?200km公里高度范围内的大气密度。本发明的方法具有探测高度范围大、技术复杂度低、易于实施、测量精度高等优势,并且该方法能实时监测临近空间大气密度变化对太阳活动的响应,有助于临近空间大气密度三维层析动态模型的建立,满足临近空间飞行器开发、验证、控制等方面对大气参数的需求。

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