| 专利名称 | 一种数字电路系统的测试方法 | 申请号 | CN201610972232.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106526462A | 公开（授权）日 | 2017.03.22 | 申请（专利权）人 | 上海航天测控通信研究所;中国科学院上海天文台 | 发明（设计）人 | 刘杰;帅涛;赵广东;陈鹏飞;张喆;黄奕 | 主分类号 | G01R31/3181(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/3181(2006.01)I | 专利有效期 | 一种数字电路系统的测试方法 至一种数字电路系统的测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种数字电路系统的测试方法，通过加电前的电源接口阻抗测试，加电后的电压正确性测试、锁相环模块时钟测试、DDS准确度与同源稳定度测试、AD/DA通路性能测试，依次对数字电路系统中协作的模块进行测试，可以保证数字电路系统中主要模块的功能及性能得到全面的测试，可以有效地评估数字电路系统的相应指标，能够最快速度得到测试结果，可靠性高。 |
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