| 专利名称 | 一种射线微探针的热台、热台装置及其实验方法 | 申请号 | CN201610888987.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106483148A | 公开（授权）日 | 2017.03.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 何上明;李爱国;闫帅;高兴宇 | 主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种射线微探针的热台、热台装置及其实验方法 至一种射线微探针的热台、热台装置及其实验方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种射线微探针的热台，其包括：热台本体，其前壁和后壁上分别对应设有同轴的入射窗口和透射窗口，底部可安装在样品定位台上；加热器；样品夹持器，其套设于高发热面积比加热器内；加热器和样品夹持器均具有通光孔，所述通光孔与所述入射窗口和透射窗口同轴。本发明提供的射线微探针的热台可立式工作，样品温度梯度小。此外，该热台还可具有高透光率、腔体真空、易于对中、样品温度均匀性好、样品种类和形状适应性广、极限工作温度高等特性。此外，本发明还公开了一种热台装置及其实验方法。本发明提供的热台装置背散荧光探测效率高，为试样提供足够的可旋转角和探测角、周全的气氛保护和真空环境。本发明尤其适用于硬X射线微探针。 |
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