| 专利名称 | 一种基于多角度的选择性光片照明显微成像的重建方法 | 申请号 | CN201610872272.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106447717A | 公开（授权）日 | 2017.02.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 田捷;胡朝恩;惠辉;董迪;杨鑫 | 主分类号 | G06T7/521(2017.01)I | IPC主分类号 | G06T7/521(2017.01)I;G06T7/55(2017.01)I;G06T17/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于多角度的选择性光片照明显微成像的重建方法 至一种基于多角度的选择性光片照明显微成像的重建方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于多角度的选择性光片照明显微成像的重建方法，涉及光片照明显微成像技术领域。本发明为了消除光片照明显微成像(SPIM)技术中条状伪影和散射模糊、灰度不均匀以及轴向和横向分辨率差别对图像质量的影响，提出：针对不同角度获取的显微体数据，提取其尺度不变特征，进行匹配并通过聚类算法求出旋转中心，再用最近邻算法和加权平均重建，得到样本的清晰体数据。本发明对选择性光片照明显微成像系统采集的多角度图像进行融合，有效的抑制了图像噪声和散射模糊，提高显微图像的纵向分辨率。 |
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