| 专利名称 | 一种尺寸测量系统 | 申请号 | CN201611219848.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106441104A | 公开（授权）日 | 2017.02.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王宇庆;刘培勋;杨航 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种尺寸测量系统 至一种尺寸测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种尺寸测量系统，通过计算机根据接收的触发信号，控制轮廓相机与深度相机进行图像采集，并将图像采集的结果与预存图像模型进行匹配和调整；再根据接收的尺寸要求，在图像采集的结果中自动识别测量点，计算得到尺寸测量结果；该系统基于计算机的上述图像处理和控制测量过程，能够实现自动化和智能化的快速尺寸测量，解决了现有技术的问题。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障