| 专利名称 | 基于双光子图像的突触检测方法 | 申请号 | CN201610716189.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106373116A | 公开（授权）日 | 2017.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 谢启伟;韩华;沈丽君;陈曦;李国庆 | 主分类号 | G06T7/00(2017.01)I | IPC主分类号 | G06T7/00(2017.01)I;G06T5/20(2006.01)I | 专利有效期 | 基于双光子图像的突触检测方法 至基于双光子图像的突触检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于双光子图像的突触检测方法，其涉及模式识别和神经学技术领域。其中，该方法包括获取所述双光子图像；将所述双光子图像分为轴突图像和树突图像；在所述轴突图像中进行轴突小结的2D检测；在所述树突图像中进行树突棘的2D检测；用检测到的轴突小结和树突棘进行2D突触检测；基于2D突触检测结果，进行3D突触检测。通过本发明，提高了检测突触的效率和精度，还具有普适性，且对图像类型不敏感。 |
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