| 专利名称 | 用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器 | 申请号 | CN201610847307.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106371132A | 公开（授权）日 | 2017.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 王宝义;况鹏;王英杰;章志明;姜小盼;曹兴忠;魏龙 | 主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/36(2006.01)I;G01N23/22(2006.01)I | 专利有效期 | 用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器 至用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本申请公开一种用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器。用于正电子湮没寿命谱测量的方法包括：正电子脉冲束团到达所述待测样品的时刻记录为第一时间；通过位置将所述正电子脉冲束团在所述待测样品中湮没产生的多个伽马光子信号区分开，并收集所述多个伽马光子信号，将收集到所述多个伽马光子信号的时刻记录为多个第二时间；对所述多个第二时间进行处理，得到多个第一时间差；以及对所述多个第一时间差进行统计，得到正电子湮没寿命谱。本申请的方法，能够同时测量多个正电子湮没产生的伽马光子的时间分布，提高测量效率。 |
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