| 专利名称 | 绝对辐射计及绝对辐射计背景空间辐射传热的测量方法 | 申请号 | CN201610675507.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106370312A | 公开（授权）日 | 2017.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 叶新;唐潇;方伟;王凯;骆杨 | 主分类号 | G01J5/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/12(2006.01)I | 专利有效期 | 绝对辐射计及绝对辐射计背景空间辐射传热的测量方法 至绝对辐射计及绝对辐射计背景空间辐射传热的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 绝对辐射计及绝对辐射计背景空间辐射传热的测量方法，涉及光辐射测量领域，解决了现有绝对辐射计测量太阳总辐照度过程中辐射传热修正缺失，与国际辐射基准溯源性较差的问题，包括视场光阑、主光阑和辐射计内部热结构；辐射计内部热结构包括压片、聚酰亚胺垫片、热电堆、热沉和吸收腔；吸收腔为带帽檐的正圆锥腔结构，热电堆的上顶面连接吸收腔帽檐，下底面与热沉连接；压片通过聚酰亚胺垫片与吸收腔帽檐固定，本方法利用有限元单元法将辐射计微元化，并在外表面覆盖上一层对应的辐射单元，用该辐射单元求解背景空间与吸收腔之间复杂的辐射传热关系，弥补绝对辐射计修正体系的缺失。 |
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