| 专利名称 | 一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法 | 申请号 | CN201610644976.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106323164A | 公开（授权）日 | 2017.01.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 何建国;韩炜;麻云凤;余锦;貊泽强;林蔚然;刘昊;陈艳中;李昊;凡炼文 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法 至一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法，包括搭建第一光学成像系统和第二光学成像系统；开启白光光源，通过匀光板将来自白光光源的光束照射在第一微物上；将第一微物置于第一光学成像系统的焦点处；将第二光学成像系统反向放置在第一光学成像系统后端的位置，使第二微物位于第二光学成像系统焦点位置；将观测设备置于所述第二微物后侧，使第二微物位于所述观测设备的焦点处；微调观测设备的焦距，使第二微物和第一微物缩放后的物像在观测设备上清晰显示，比较第二微物和第一微物的物像的重合精度，得到测量结果。本发明提供的基于平行光比例成像的远距离微物重合度检测方法，解决了微物在大空间内无法测量重合度的问题。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障