| 专利名称 | 轴线相交度测试装置及方法 | 申请号 | CN201610625356.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106289085A | 公开（授权）日 | 2017.01.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 赵怀学;周艳;田留德;赵建科;薛勋;潘亮;胡丹丹;段亚轩;张洁;曹昆;李坤;赛建刚;昌明 | 主分类号 | G01B11/14(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/14(2006.01)I;G01C1/02(2006.01)I | 专利有效期 | 轴线相交度测试装置及方法 至轴线相交度测试装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种轴线相交度的测试方法，首先调整光电自准直仪，对准平面双面反射镜；调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心，记录自准直经纬仪读数；将转台水平轴按45°间隔旋转，总共旋转360°，记录自准直经纬仪读数；旋转转台，光电自准直仪监视转台垂直轴旋转180°，调整自准直经纬仪瞄准平面双面反射镜十字丝像中心，记录自准直经纬仪读数再将转台水平轴按45°间隔旋转，总共旋转360°，记录自准直经纬仪读数，根据记录的数据计算轴线相交度，本发明测试方法采用非接触式两轴相交度测试方法，测试精度高，且测量方法不受标准芯棒尺寸的限制。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障