| 专利名称 | 一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法 | 申请号 | CN201610642705.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106294984A | 公开（授权）日 | 2017.01.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 夏祥;李海波;刘亚群;于崇;刘博 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I;G06Q50/08(2012.01)I | 专利有效期 | 一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法 至一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种基于细观裂纹增长率确定岩体损伤门槛的方法，其特征在于：包括对目标岩体采样进行常规物理力学特性实验和薄片分析，根据得到的岩体强度、变形特性和细观颗粒形状、胶结状态，采用计算机模拟技术重建岩体试样的数值模型，对试样的现实实验过程进行力学行为和变形过程的数值重放，考察细观裂纹数目增长随应变的变化规律，引入细观裂纹增长率这一参数，通过其峰值点对应的岩体损伤定义损伤门槛值。本发明揭示岩石细观裂纹在加载条件下的增长规律，引入细观裂纹增长率的概念，提出了一种新的确定岩体损伤门槛值的方法。通过本发明的分析方法可以得到规范化岩体损伤门槛，为其在水利水电、核电和岩土工程中的推广运用奠定完善的基础。 |
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