| 专利名称 | 一种LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法 | 申请号 | CN201610527457.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106228532A | 公开（授权）日 | 2016.12.14 | 申请（专利权）人 | 中科院成都信息技术股份有限公司 | 发明（设计）人 | 钱基德;陈斌;吴珊;赵雪专;李科;张衡;周中伟;吴强 | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T7/00(2006.01)I;G06T7/60(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I | 专利有效期 | 一种LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法 至一种LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明属于机器视觉图像测量与屏幕检测技术领域，具体涉及一种基于计算机视觉的LCD屏幕亚像素级缺陷检测方法。本方法对屏幕图像预处理获取二值化参数u0，通过自学习获取LCD单元的垂直VD、水平HD间距参数；对待检测图像进行全局二值化得到图像BI；然后对二值化图像BI进行采用约束性梯度方法，得到梯度图像DI；最后对梯度图像DI进行连通域面积计算，通过对面积进行判断是否存在缺陷，并对缺陷进行准确定位，从而实现LCD屏幕亚像素级的点线缺陷的快速检测。本发明适用于高清屏的点线缺陷检测环节，能够提高产品的良品率。 |
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