| 专利名称 | 芯片单粒子效应探测方法及装置 | 申请号 | CN201610480725.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106199392A | 公开（授权）日 | 2016.12.07 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 李慧云;邵翠萍;刘玢玢 | 主分类号 | G01R31/311(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/311(2006.01)I | 专利有效期 | 芯片单粒子效应探测方法及装置 至芯片单粒子效应探测方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种芯片单粒子效应探测方法及装置，其中方法包括：将待测芯片放入测试机台，触发待测芯片产生单粒子效应；利用使能信号随机关断待测芯片的扫描寄存器，形成随机观测矩阵；向待测芯片输入测试向量，获得待测芯片的输出测试向量，根据输出测试向量获得错误总数向量；对错误总数向量进行压缩感知信号重构，确定待测芯片内部敏感区域。本发明可以高效、便捷地对芯片单粒子效应进行探测。 |
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