| 专利名称 | 双通道双波长干涉检测装置 | 申请号 | CN201610551583.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106197258A | 公开（授权）日 | 2016.12.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘世杰;周游;白云波;鲁棋;张志刚;王微微;徐天柱 | 主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | 专利有效期 | 双通道双波长干涉检测装置 至双通道双波长干涉检测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种双通道双波长干涉检测装置，该装置包括第一激光光源干涉仪主机、第二激光光源干涉仪主机、转折反射镜、滑动导轨、扩束次镜、准直主镜和标准透射镜。其中第一激光光源干涉仪主机和第二激光光源干涉仪主机到转折反射镜之间的空间光束为第一小口径测量通道，标准透射镜后的光束为第二大口径测量通道。第一激光光源干涉仪主机和第二激光光源干涉仪主机分别可以输出两种不同的激光波长。测量时将待测反射镜置于光路中，本发明装置可以同时提供两种测量通道和测量波长，适合不同口径和对测量波长有特殊要求的光学元件波前畸变的测量。 |
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