| 专利名称 | 固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法及系统 | 申请号 | CN201610563518.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106204742A | 公开（授权）日 | 2016.12.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 孟维亮;严冬明;全卫泽;郭建伟;张晓鹏 | 主分类号 | G06T17/30(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T17/30(2006.01)I | 专利有效期 | 固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法及系统 至固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种固定点数的二维等半径最大化泊松圆盘采样方法和采样系统。其中，该方法包括根据用户指定的采样点数目和采样区域，生成第一采样点集；对所述第一采样点集进行Delaunay三角化，并提取Delaunay三角化结果中的最短边长作为第一采样半径；确定所述第一采样点集是否达到所述最大化泊松圆盘采样；在所述第一采样点集达到所述最大化泊松圆盘采样的情况下，记录所述第一采样点集及所述第一采样半径。通过本发明实施例解决了如何实现点数固定的最大化泊松圆盘采样的技术问题，可使得采样点集具有很好的蓝噪声性质，具有简单、易于实现、性能稳定且能够收敛的优点，可应用于图像渲染和纹理合成等应用中。 |
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