| 专利名称 | 一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法 | 申请号 | CN201610707167.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106125364A | 公开（授权）日 | 2016.11.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 杜升平;傅承毓;黄永梅;罗传欣;徐少雄 | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I | IPC主分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法 至一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 |
本发明提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法，该方法利用液晶构建相位调制分别为0和 |
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