| 专利名称 | 应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法 | 申请号 | CN201610409009.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106066919A | 公开（授权）日 | 2016.11.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 陈黎明;黑勇;袁甲 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法 至应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种应用于近/亚阈值数字电路的统计静态时序分析方法，包括：降低标准单元库的工作电压至阈值电压附近，对近/亚阈值标准单元库进行功能仿真与特征化建模；采用概率延时分析算法对路径延时进行快速分析与排序；采用Monte?Carlo分析策略以及3σ判决标准对可疑路径精确分析，进一步提高时序可靠性。本发明针对近/亚阈值数字电路时序分析的可靠性问题，提出一种精确、可靠、快速的统计静态时序分析方法，充分考虑工艺偏差对路径时序的影响，解决了近/亚阈值数字电路时序分析的可靠性问题。与传统的静态时序分析方法以及基于Hspice的时序仿真方法相比，本发明在时序分析准确性和效率方面优势显著。 |
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