| 专利名称 | 一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法 | 申请号 | CN201610451484.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106066339A | 公开（授权）日 | 2016.11.02 | 申请（专利权）人 | 深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 陈昳丽;符吉祥;李栓;刘云;储大为;江帆;谢耀钦;王磊 | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 专利有效期 | 一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法 至一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及计算机控制技术领域，具体涉及一种X射线冷光计算机断层扫描实验系统，本发明包括：环形轨道，所述环形轨道上接有直线轨道，所述直线轨道的两末端分别与环形轨道相接，所述环形轨道上活动设置有第一支架，所述第一支架上设有相机，所述相机朝向环形轨道的内侧，所述直线轨道上分别活动设置有第二支架和第三支架，所述第二支架上设有X射线源，所述第三支架上设有样品存放部，所述X射线源的发光端设置于样品存放部的前方，且与该样品存放部相对准，所述样品存放部的后方设有X射线探测器。本发明在不伤害实验人的情况下，可以对成像系统进行操作，不用反复开关X射线源，从而解决实验操作不便的问题。 |
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