| 专利名称 | 光学仪器低温环境测试箱 | 申请号 | CN201510117445.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106033024A | 公开（授权）日 | 2016.10.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院寒区旱区环境与工程研究所 | 发明（设计）人 | 芮鹏飞;陈继 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 光学仪器低温环境测试箱 至光学仪器低温环境测试箱 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种光学仪器低温环境测试箱，该测试箱包括真空双层玻璃制成且内设上层腔体、中层腔体、下层腔体的箱体和设在所述箱体顶部与电源相连的单片机。上层腔体与中层腔体之间、中层腔体与下层腔体之间均设有隔板，该隔板上设有对称分布的通气孔；上层腔体通过空气循环管直接与下层腔体相连；上层腔体的一侧设有带电机的风扇；上层腔体与中层腔体相接处的隔板上设有制冷液循环管，该制冷液循环管外接制冷机；下层腔体的一侧设有温度传感器；单片机分别与风扇、温度传感器相连，并外接键盘和液晶显示屏。本发明成本低、操作简单，可以为待测光学仪器提供不受空间范围限制的低温测试环境。 |
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