| 专利名称 | 一种微米级前太阳颗粒透射电镜样品的制备方法 | 申请号 | CN201711015987.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107941832A | 公开（授权）日 | 2018.04.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 谷立新;徐于晨;林杨挺;潘永信 | 主分类号 | G01N23/2202(2018.01)I | IPC主分类号 | G01N23/2202(2018.01)I | 专利有效期 | 一种微米级前太阳颗粒透射电镜样品的制备方法 至一种微米级前太阳颗粒透射电镜样品的制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明一种微米级前太阳颗粒透射电镜样品的制备方法，其方法为在聚焦离子束?扫描电镜双束系统中用纳米操作手钨针尖连接碳纤维，用气体注入铂的方式粘牢，再用碳纤维去粘取微米级颗粒样品，之后把样品放在削尖的树脂载台上进行固定，最后将样品连同树脂载台一起进行包埋，放进传统的超薄切片机进行切片，厚度设置小于100纳米，用超薄碳膜捞取切下的样品薄片，可供透射电镜分析。此方法集成了聚焦离子束?扫描电镜双束系统和超薄切片两种方法的优点，对样品损伤较小，成功率高，且可以制备足够多的样品超薄片，在完成超薄切片后留一部分样品进行其他原位微区分析，更重要的是能够满足原位获得微米级前太阳颗粒的同位素和晶体结构信息的要求。 |
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