| 专利名称 | 用于小角X射线散射实验的原位装置 | 申请号 | CN201610955590.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106290426A | 公开（授权）日 | 2017.01.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 贺周同;曾建荣;田丰;唐辉;戚威;汪雪;张灿;夏汇浩 | 主分类号 | G01N23/201(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/201(2006.01)I | 专利有效期 | 用于小角X射线散射实验的原位装置 至用于小角X射线散射实验的原位装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于小角X射线散射实验的原位装置。该装置包括：真空及气氛保护系统、应力加载及测量系统、温度加载及测量系统；本发明在应力加载系统中采用拉?压应力转换设计实现在应力加载过程中样品的自对中；本发明在加温及测量系统中采用特殊设计，在实现宽X射线通道的同时保证温度场的均匀，同时样品的加温温度可达1100摄氏度。本发明结构简单、性能可靠、测量精度高，可在真空或气氛保护环境下同时对样品进行温度、应力加载。本发明配合同步辐射小角X射线散射线站使用，可对被测样品进行在力学使役环境下的微观变形，损伤和断裂过程进行原位检测，为揭示脆性材料样品的形变、微观结构在应力下的变化提供了有效、可靠的测试手段。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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4、专员跟进，交易保障