| 专利名称 | 辐照环境用低暗计数单光子探测装置 | 申请号 | CN201721510117.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208350205U | 公开（授权）日 | 2019.01.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 廖胜凯;杨孟;蔡文奇;任继刚;印娟;曹蕾;彭承志;潘建伟 | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 辐照环境用低暗计数单光子探测装置 至辐照环境用低暗计数单光子探测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种辐照环境用低暗计数单光子探测装置。其中，装置包括雪崩光电二极管，用于在盖革模式下，探测输入的单光子量级光信号；一级制冷结构，用于根据控制信号，控制雪崩光电二极管器件的安装环境温度；温度采集模块，用于采集雪崩光电二极管的温度信号；温度控制算法模块，用于接收雪崩光电二极管的温度信号，并根据雪崩光电二极管的温度以及其当前的目标温度分析出需要的温度控制信号；温度控制电路，用于根据温度控制算法模块给出的温度控制信号，生成驱动控制信号；热电制冷模块，用于调节雪崩光电二极管的温度。该装置有效地抑制辐照引起的暗计数增加速度，解决了辐照环境应用低暗计数单光子探测器的难题。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障