| 专利名称 | 用于低温磁场下介电、电极化、高阻测量的测试样品杆 | 申请号 | CN201820700901.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208383919U | 公开（授权）日 | 2019.01.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 王永强;童伟;张仕乐;皮雳 | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01N27/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于低温磁场下介电、电极化、高阻测量的测试样品杆 至用于低温磁场下介电、电极化、高阻测量的测试样品杆 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种用于低温磁场下介电、电极化、高阻测量的测试样品杆，包括有不锈钢空心管和样品台，所述的不锈钢空心管的外侧套有接口法兰，在接口法兰的侧面设有19针航空插头和SMA接头固定盲板，在SMA接头固定盲板上安装有SMA接头，接口法兰通过KF40接口与杜瓦接口连接，在不锈钢空心管上位于接口法兰下面开有开口，双绞射频线通过开口伸入不锈钢空心管内部并从不锈钢空心管下端穿出。本实用新型设计的样品杆所测的数据噪声基本在0.04pA左右，最优时甚至只有0.02pA，因此使用本实用新型所设计的样品杆能够实现小噪声变温，变磁场的热释电流，介电/阻抗谱，高阻等电学测量，这对于多铁性电极化等研究至关重要。 |
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