| 专利名称 | 用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置 | 申请号 | CN201820901568.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208350332U | 公开（授权）日 | 2019.01.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘强;王欣;窦永昊;黄庚华;何志平;舒嵘 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置 至用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置。立方棱镜光校装置采用一个立方棱镜办法折转两束激光束成180度夹角，实现了望远镜光学系统光轴与参考标准平面镜法线平行的初始调节；再采用两块平行平板的平行关系，解决了望远镜光轴与参考平面镜法线平行的高精度精密调节。本专利攻克了望远镜装调过程光轴漂移引起像质变化的难题，实现了被测试系统状态的实时高精度监控，光路结构简单，粗调与精调相结合，大大提高了光校效率。采用本专利所述的光校装置，不仅适用望远镜光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与实时监测，还适用于标定相对的两块反射镜面的夹角、两块光学平板的夹角等其它光校领域。 |
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