| 专利名称 | 磁场强度测量装置 | 申请号 | CN201820603543.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208172221U | 公开（授权）日 | 2018.11.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 丁冬生;李恩泽;史保森;郭光灿 | 主分类号 | G01R33/032(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/032(2006.01)I | 专利有效期 | 磁场强度测量装置 至磁场强度测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种磁场强度测量装置，其中测量装置包括：激光器，用于产生激光光束；第一偏振组件，供激光光束通过，形成45度偏振的线性偏振光；Sagnac干涉仪，用于供所述线性偏振光射入形成干涉；第二偏振组件，从Sagnac干涉仪射出的干涉光进入该第二偏振组件后形成左旋圆偏振光和右旋圆偏振光；铷原子蒸气室，配置为位于待测磁场强度的磁场中，用于供由第二四分之一波片射出的左旋圆偏振光和右旋圆偏振光通过；第一偏振分束器，供从铷原子蒸气室射出的偏振光通过；摄像机，检测从偏振分数器射出的偏振光所形成的干涉图案。本实用新型了提供的磁场强度测量装置利用轨道角动量对称光束来精确测量弱磁场强度。 |
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