| 专利名称 | 一种均匀光源角均匀性测试装置 | 申请号 | CN201820809288.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208270178U | 公开（授权）日 | 2018.12.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 昌明;赵建科;薛勋;周艳;李晶;曹昆;胡丹丹;宋琦 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种均匀光源角均匀性测试装置 至一种均匀光源角均匀性测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型属于光学测试领域，涉及一种均匀光源角均匀性测试装置，解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面，造成投入过高、资源浪费的问题。本实用新型的技术解决方案是：一种均匀光源角均匀性测试装置，包括X?Y二维扫描架、旋转平台和光亮度探测器；X?Y二维扫描架包括横板和竖板，竖板垂直设置在横板上，且竖板可沿横板轴向往复运动；旋转平台设置在竖板上，旋转平台可沿竖板轴向往复运动，还可在竖板上转动，光亮度探测器设置在旋转平台上。 |
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