| 专利名称 | 一种自动探针测试装置及系统 | 申请号 | CN201820721187.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208207070U | 公开（授权）日 | 2018.12.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 范一松;郭强;苏锐 | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种自动探针测试装置及系统 至一种自动探针测试装置及系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种自动探针测试装置，包括：侧板、底板、探头支架和移动机构，所述侧板的底部一端与所述底板的一端相连，且所述底板用于放置待测器件，所述探头支架与所述移动机构的一端固定相连，所述移动机构的另一端沿着所述侧板的轴向方向滑动连接；所述探头支架上设置有多组四针探头，每一组四针探头上至少包括一个四针探头，且所述四针探头在所述探头支架上可沿横向和纵向移动。另外，本实用新型还提供了一种基于该装置的自动探针测试装系统。利用本实用新型实施例，提高待测器件的测试效率，以及减少测试过程中进行人为的手动移动待测器件，减少器件的损坏几率。 |
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