| 专利名称 | 宽温域磁通温度特性测量装置 | 申请号 | CN201820705324.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208110021U | 公开（授权）日 | 2018.11.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 发明（设计）人 | 孙颖莉;刘雷;赵江涛;张鑫;李东;闫阿儒 | 主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | 专利有效期 | 宽温域磁通温度特性测量装置 至宽温域磁通温度特性测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种宽温域磁通温度特性测量装置。所述的装置包括：样品室，其包括分别用于放置标准样品(6)、待测样品(7)的恒温腔室(11)、变温腔室(12)；感应信号采集系统，其用于检测待测样品(7)与标准样品(6)的磁通信号差值；温度探测及控制系统，其至少用于对变温腔室(12)的温度进行调控和测量；计算机控制和处理系统(5)，其与所述感应信号采集系统和温度探测及控制系统连接，并至少用于控制所述温度探测及控制系统的工作状态。本实用新型提供的宽温域磁通温度特性测量装置结构简单，使用方便，提高了磁通信号测量的精度，适合测量温度系数优于?1％％/℃的低温度系数永磁材料。 |
1、源头对接，价格透明
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