| 专利名称 | 荷电离子束流强度测量系统 | 申请号 | CN201820714394.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208188352U | 公开（授权）日 | 2018.12.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院近代物理研究所 | 发明（设计）人 | 姚存峰 | 主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | 专利有效期 | 荷电离子束流强度测量系统 至荷电离子束流强度测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本公开提供了一种荷电离子束流强度测量系统，该测量系统包括离子束传输真空管道、电磁扫描设备、离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料；电磁扫描设备，设置在所述离子束传输真空管道前端的外部；离子束斑探测器、半拦截式束流探测器、拦截式束流探测器和辐照材料顺次设置在离子束传输真空管道内，其中辐照材料设置在离子束传输真空管道的后端。本公开突破了传统铝箔三明治测束技术中存在的测量精度差，易烧蚀损坏等问题，同时也克服了样品与法拉第筒一体式设计中操作不便利、导电样品限制等不足，采用一种半拦截式的测束技术，更加适合在强流、长时间、不同辐照材料实验中使用。 |
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