| 专利名称 | 全能谱中子辐照损伤精确模拟系统及其算法 | 申请号 | CN201710434233.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107195345A | 公开（授权）日 | 2017.09.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 邹俊;吴宜灿;胡丽琴;郝丽娟;尚雷明 | 主分类号 | G21C17/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G21C17/04(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 全能谱中子辐照损伤精确模拟系统及其算法 至全能谱中子辐照损伤精确模拟系统及其算法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种全能谱中子辐照损伤精确模拟系统，该系统主要包括辐照损伤核数据模块、高能物理核反应模块以及辐照损伤计算模块。本系统的算法包括以下步骤：第一步输入中子通量、材料成分或者选择固定的辐照环境；第二步，将中子通量、材料成分数据输入辐照损伤核数据以及高能物理核反应模块，进行辐照损伤截面调用与计算，生成指定核素全能谱的中子辐照损伤DPA及气体产生截面；第三步，根据第二步调用或计算的中子辐照损伤截面，输入到辐照损伤计算模块，结合材料的辐照时间以及中子通量、材料成分，实现在任意辐照环境下的全能谱中子辐照损伤精确计算。本发明所涉及的系统可以充分满足多种核能系统的辐照损伤计算与模拟。 |
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