一种基于粒子群优化算法的晶圆曝光路径规划方法

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专利名称 一种基于粒子群优化算法的晶圆曝光路径规划方法 申请号 CN201710229617.4 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN106970506A 公开(授权)日 2017.07.21 申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 郑亚忠;戴凤钊;步扬;王向朝;孟泽江;彭常哲 主分类号 G03F7/20(2006.01)I IPC主分类号 G03F7/20(2006.01)I 专利有效期 一种基于粒子群优化算法的晶圆曝光路径规划方法 至一种基于粒子群优化算法的晶圆曝光路径规划方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种基于粒子群优化算法的晶圆曝光路径规划方法,通过将晶圆曝光场进行编号,以晶圆曝光场的曝光次序为粒子,以曝光路径总长度为目标函数,通过更新粒子的曝光次序来对曝光路径总长度进行优化。本发明能有效缩短晶圆曝光流程总时间,从而提高光刻机产率,具有原理简单、鲁棒性强、收敛速度快的优点。

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