| 专利名称 | 一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器 | 申请号 | CN201710039152.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106802428A | 公开（授权）日 | 2017.06.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 佟亚军;谢红兰;陈敏;杜国浩;邓彪;朱化春;肖体乔 | 主分类号 | G01T1/202(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/202(2006.01)I | 专利有效期 | 一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器 至一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器，其用于探测入射的X射线光束，包括闪烁体、耦合系统以及可见光探测器，其中，所述闪烁体在所述X射线光束的作用下生成可见光，所述耦合系统将所述可见光传输至所述可见光探测器，从而探测所述X射线光束，其中：所述耦合系统包括全反射式物镜、反射平面镜以及投影透镜组，其中：所述全反射式物镜基于所述可见光对所述闪烁体成像生成可见光束；所述反射平面镜将所述可见光束反射至所述投影透镜组，并且不反射所述X射线光束；所述投影透镜组将接收到的可见光束投影至所述可见光探测器。本发明提供的X射线成像探测器耐辐射并且耐高热负载，可以用在高功率密度的X射线成像探测领域。 |
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