| 专利名称 | 光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法 | 申请号 | CN201710029641.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106813901A | 公开（授权）日 | 2017.06.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 钟朝阳;刘源;周翠芸;马秀华;孟俊清;侯霞;陈卫标 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法 至光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种光学器件相位延迟量的测量装置及其测量方法，装置主要包括双频He?Ne激光器、偏振分光镜、半波片、45°高反镜、偏振片、光电探测器。采用外差探测技术，线偏振光经过待测光学器件的快轴慢轴后分别与参考频率光拍频，使用光电探测器接收拍频信号，比较拍频信号的相位差，从而实现相位器件相位延迟量的精确测量。本发明可以测量光学器件任意波段的相位延迟量，具有结构简单紧凑，使用方便，抗环境干扰能力强，易于集成、相位延迟量测量精确的特点。 |
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