GaN基半导体器件及其制作方法

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专利名称 GaN基半导体器件及其制作方法 申请号 CN201510752667.1 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN106684213A 公开(授权)日 2017.05.17 申请(专利权)人 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 发明(设计)人 严威;孙逸;冯美鑫;周宇;孙钱;杨辉 主分类号 H01L33/00(2010.01)I IPC主分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01S5/343(2006.01)I 专利有效期 GaN基半导体器件及其制作方法 至GaN基半导体器件及其制作方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了一种GaN基半导体器件及其制作方法。所述GaN基半导体器件包括硅衬底、以及形成于所述硅衬底上的外延层,所述外延层包括依次形成于所述硅衬底上的AlN成核层,AlGaN缓冲层以及GaN缓冲层。本发明采用介质膜做为掩膜层,通过调控介质层的周期数达到不同的效果,当周期数较大时可以做为限制层,能够有效减少光损耗,降低激光器和超辐射发光二极管的阈值电流;当周期数较小时做为界面层,与底部的AlGaN组成另一个光波导结构,形成平板耦合光波导激光器、超辐射发光二极管,可以得到形状较好的近圆光斑。

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