| 专利名称 | 光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201611039171.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106596058A | 公开（授权）日 | 2017.04.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘世杰;王圣浩;王微微;倪开灶;徐天柱;鲁棋;潘本威 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J3/30(2006.01)I | 专利有效期 | 光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法 至光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于平面光栅的光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法，测量装置主要包括激光光源、单色器、光阑、偏振片、分束镜、待测光栅、光电探测器、正弦机械结构和电子学控制等部分。本发明的优点是：(1)显著提高了光栅衍射效率光谱的测量速度，可以实现光栅衍射效率光谱的快速测量，如应用于观测光栅衍射效率光谱特性在温度、湿度以及激光辐照损伤等环境因素下的动态变化过程；(2)在测量过程中，仪器的机械构件始终保持匀速运动状态，测试系统因而具有较高的机械稳定性；(3)测量仪器具有较高的工作效率。 |
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