| 专利名称 | 一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法 | 申请号 | CN201610710865.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106404352A | 公开（授权）日 | 2017.02.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 张俊波;张昂 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法 至一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种大视场望远镜光学系统畸变与场曲的测量方法，该测量方法中，平行光源(1)直接入射被测大视场望远镜(6)，视场改变是通过调整平行光源(1)的倾斜和俯仰姿态实现，全视场测量过程中，被测大视场望远镜(6)保持固定状态，计算机(3)、波前探测器(4)及其运动台(5)组成闭环定位结构，准确测量并定位被测大视场望远镜(6)像点的空间位置，对比像点的理想位置，拟合得到被测大视场望远镜(6)光学系统的畸变和场曲。本发明的测量方法操作简单高效、测量精度高，并能实现自动检测，为大视场望远镜光学系统校正畸变和场曲提供了可靠的测量数据。 |
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