| 专利名称 | 一种基于MIPI D?PHY协议的回路测试系统 | 申请号 | CN201610807744.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106370999A | 公开（授权）日 | 2017.02.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海高等研究院;上海市信息技术研究中心 | 发明（设计）人 | 王鹏;吴涛;高鹏 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于MIPI D?PHY协议的回路测试系统 至一种基于MIPI D?PHY协议的回路测试系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种基于MIPI?D?PHY协议的回路测试系统，包括：封装于同一块测试片中的D?PHY受控模块、D?PHY主控模块、回路模块和控制模块；所述D?PHY受控模块和所述D?PHY主控模块分属不同时钟域，分别通过PPI总线与所述回路模块相连；所述回路模块通过PPI总线在所述D?PHY受控模块和所述D?PHY主控模块之间接收和转发数据；所述控制模块分别与所述D?PHY受控模块、所述D?PHY主控模块和所述回路模块连接，控制所述D?PHY受控模块、所述D?PHY主控模块和所述回路模块的参数配置。本发明的测试系统良好地实现了跨时钟域的集成测试，同时将两个单独使用的芯片模块集成于一款测试片中的设计，简化了D?PHY芯片验证的复杂度。 |
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