| 专利名称 | 一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法 | 申请号 | CN201610707394.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106323599A | 公开（授权）日 | 2017.01.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 张俊波;张昂 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法 至一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种大视场望远镜光学系统成像质量的检测方法，包括以下步骤：第一步：基准视场标定；第二步：测量视场改变，调整平行光源(1)的出射角度；第三步：波前探测器(4)定位，根据定位闭环结构调整六维运动台(5)的位置和姿态，直至波前探测器(4)与被测大视场望远镜(6)处于共焦位置；第四步：成像质量检测，依据波前探测器(4)的测量数据，利用波前复原算法，得到被测大视场望远镜(6)的成像质量；重复第二步至第四步，直至完成全视场范围的检测。本发明解决了大视场望远镜光学系统成像质量的检测问题，克服了目前以中心视场成像质量近似表示全视场成像质量的不足，实现了全视场的自动检测，提高了检测准确度。 |
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